英国abi_AT256集成电路测试仪可测试256管脚元器件;多类型,多品牌检测多种类型的元器件,好坏对比测试方法:1)元器件之间对比;2)存储对比测试;丰富可试的测试条件,测试条件:电压,电阻,频率,测试波形可调并组合条件测试;判定对比标准可根据客户需求设定;
英国abi_AT256 A4集成电路测试仪具备二维集成电路用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板用V-I动态阻抗端口测试通道:64路(可扩充至2048路);三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:64路(可扩充至2048路)
英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪:二维集成电路用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板用V-I动态阻抗端口测试通道:128路;三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:128路集成电路的来料质量控制检测与筛选,一致性检测;快速筛选假冒,仿制集成电路及元器件.
英国abi_AT256 A4 pro4多品种集成电路筛选测试仪具备二维集成电路用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:256路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;
英国abi_SWA512集成电路测试仪具备二维V-I动态阻抗端口测试通道:512路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:512路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:512路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;可用于集成电路、元器件研发测试;三维立体动态阻抗测试.
SWA1024集成电路测试仪可用于集成电路、元器件研发测试;三维立体动态阻抗测试,二维V-I动态阻抗端口测试通道:1024路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:1024路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:1024路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测
SWA2048集成电路测试仪提供二维V-I动态阻抗端口测试通道:2048路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:2048路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:2048路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;可用于集成电路、元器件研发测试;三维立体动态阻抗测试