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AT256 A4 pro4多品种集成电路筛选测试仪

具备二维集成电路用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:256路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;

  • 英国abi_AT256 A4 pro4多品种集成电路筛选测试仪详细资料:


    二维集成电路用V-I动态阻抗端口测试通道:256路

    二维电路板用V-I动态阻抗端口测试通道:256路(可扩充至2048路)

    三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:256路(可扩充至2048路)


    功能用途:

    1)集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;

    2)快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;

    3)对不良器件进行三维动态阻抗失效分析;

    4)非加电条件下对集成电路、电路板进行端口动态阻抗测试分析;

    5)快速准确定位失效集成电路故障管脚,高效查找故障电路板的失效I/O管脚;

    6)测试安全可靠,解决器件工艺、电路板工艺问题,快速解决集成电路及电路板故障点定位问题;

    7)进行集成电路和电路板阻抗一致性检测;

    8)配合测控平台软件,实现集成电路、电路板定制化和自定义编程测试。


    英国abi_AT256 A4 pro4多品种集成电路筛选测试仪技术规格:

    1)256路二维集成电路用V-I端口动态阻抗测试通道;

    2)256路二维电路板用V-I端口动态阻抗测试通道;

    3)256路V-I-F三维立体动态阻抗测试通道;

    4)4路探笔测试,4路V-T/V-T-F测试通道;

    5)显示图形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F;

    6)可定制多种封装通用集成电路测试治具;

    7)可定制多种电路板I/O接口测试治具;

    8)系统提供测试自定义报告输出;中英文测试操作软件;

    9)设备可以64通道为步进可扩充到2048组测试通道。


    测试原理(V-I曲线测试):

    对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号,产生一个阻抗特征图,以备对比和存储。

    被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对,阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。

    测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。


    集成电路测试操作如此简单:

    1.从数据库选择要测试的集成电路型号.

    2.将集成电路插入测试座.

    3.执行测试

    4.得到PASS或FAIL的测试结果.


    不需要电子专业知识.

    适用于集成电路/封装件.及多种类型电路板.

    灵活、好安装、宜操作.

    测试结果直接: PASS或FAIL.

    软件可设定多种测试条件.

    可提供集成电路自定义测试分析报告.


    英国ABI-AT256 A4 pro4多品种集成电路测试仪适合不同封装形式的元件:

    -双列插脚(DIL)

    -小型封装集成集成电路(SOIC)

    -小型封装(SSOP, TSOP)

    -塑料无引线芯片载体封装(PLCC)

    -四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)

    -球门阵列封装(BGA)

    注意: AT256 A4 pro4不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于各个电路板的测试。


    三维立体V-I-F动态阻抗端口测试

    ABI-AT256 A4 pro4内图1


    AT256 A4 pro4测试报告

    ABI-AT256 A4 pro4内图2



  • 英国abi_ AT256A4PRO4集成电路测试仪视频介绍



     

            英国abi_ AT256A4PRO4集成电路测试仪视频介绍,256集成电路快速筛选测试通道;256路V-I-F/V-I测试通道(可扩充至2048通道);4通道实时对比测试;4通道同步脉冲信号输出;


  • 英国abi_AT256 A4 pro4多品种集成电路筛选测试仪软件截图:


    1. 集成电路筛选测试图

    集成电路筛选测试图


    2. 集成电路测试报告

    集成电路测试报告


    3. 三维立体V-I-F测试图1

    三维立体V-I-F测试图1

    4. 三维立体V-I-F测试图2

    三维立体V-I-F测试图2


    5. V-T测试图

    V-T测试图


    6. 矩阵式V-I曲线测试图

    矩阵式V-I曲线测试图



  • 英国abi_AT256 A4 pro4多品种集成电路筛选测试仪规格参数:

    1.测试通道:256集成电路快速筛选测试通道;

    2.测量通道:256路V-I-F/V-I测试通道(可扩充至2048通道);

    3. 探笔通道:4通道实时对比测试;

    4. 信号通道:4通道同步脉冲信号输出;

    5.扫描波形:正弦波、三角波、锯齿波

    6.集成电路筛选扫描频率:100Hz/200Hz/500Hz/1KHz/2KHz/5KHz 6种频率供选择

    7. 测试信号频率范围:二维测试频率范围:1 Hz ~ 10kHz(以1Hz为步进连续可调);

    8. 三维测试频率范围:10Hz ~ 10kHz(以1Hz为步进连续可调);

    9.扫描电压:20Vp-p/10Vp-p/4Vp-p/2Vp-p,调整分辨率0.1V;可以设定为非对称扫描电压

    10. 测试信号电压范围:2 V ~ 50 Vp-p;

    11.测试源电阻:100Ω ~ 1MΩ;

    12.扫描类型2种:

        矩阵扫描:以每个管脚为公共端,其他管脚对公共端的扫描。

        常规扫描:以某个管脚为公共端,其他管脚对这个管脚的扫描。

    13.测试方法2种:数据存储对比、元器件间对比

    14.扫描循环4种:单次、循环;

    15. 显示图形模式: V-I, V-T, V-I-F,V-T-F;

    16. 二维V-T测量方式:检查与时间特性器件的测量方式;

    17. 三维立体V-I-F测量方式:检查与频率特性有关的器件或电路板的测量方式;

    18. 同步脉冲输出模式:单脉冲、双脉冲、三脉冲、四脉冲;

    19. 同步信号振幅: -10 V ~ +10V可调,最小调整分辨率0.01V;

    20. 设备升级:可以以64通道为步进可扩充到2048组测试通道。

    21.电气规格:电源电压:85-264VAC,电源频率47-63Hz

    22.操作环境:操作温度:10℃~30℃,操作湿度:20-80%RH


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