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SWA512集成电路测试仪

具备二维V-I动态阻抗端口测试通道:512路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:512路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:512路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;可用于集成电路、元器件研发测试;三维立体动态阻抗测试.

  • 英国abi_SWA512集成电路测试仪详细资料:

    测试通道:

    二维V-I动态阻抗端口测试通道:512路

    二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:512路

    三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:512路

    设备可以64通道为步进可扩充到2048组测试通道


    英国abi_SWA512集成电路测试仪功能用途:

    1)集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;

    2)可用于集成电路、元器件研发测试;三维立体动态阻抗测试;

    3)快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;

    4)对不良器件进行三维动态阻抗失效分析;

    5)非加电条件下对集成电路、电路板进行全面的端口动态阻抗测试分析;

    6)快速准确定位失效集成电路故障管脚,高效查找故障电路板的失效I/O管脚;

    7)测试安全可靠,全面解决器件工艺、电路板工艺问题,快速解决集成电路及电路板故障点定位问题;

    8)进行集成电路和电路板阻抗一致性检测;

    9)专业操作管理平台:可根据需求编辑测试流程程序,完成自定义化测试,软件管理平台兼容其他厂商设备。测试流程的制定贯穿整个测试过程,使集成电路、电路测试的过程形成标准的测试流程(维修流程、生产流程)。保证了测试工艺的一致性,排除人为因素的干扰。使测试简单、容易、标准化。


    英国abi_SWA512集成电路测试仪主要优势:

    1)提供软件开发平台,兼容其他厂商测试设备;

    2)特有的V-T模式可测量器件的开关时间特性(配合同步脉冲);可设定同步脉冲信号的宽度,进行可控硅元器件或FET的功能测试。可测试三段期间开关时间特性。

    3)动态阻抗分析功能,可以对三维图形进行参数的测量;

    4)变频或扫频三维立体V-I-F测量方式,三维立体显示器件的端口特性曲线,可以查找与器件频率有关的故障。检查与频率特性有关的器件或集成电路。

    5)非加电条件下静态诊断集成电路, 不必外加电源即可进行测试。测试更安全:矩阵式扫频测试,脉冲输出进行的动态V/T测试。



  • 英国abi_SWA512集成电路测试仪介绍视频:


            英国abi_SWA512集成电路测试仪可根据需求编辑测试流程程序,完成自定义化测试,软件管理平台兼容其他厂商设备。测试流程的制定贯穿整个测试过程,使集成电路、电路测试的过程形成标准的测试流程(维修流程、生产流程)。保证了测试工艺的一致性,排除人为因素的干扰。使测试简单、容易、标准化。


  • 英国abi_SWA512集成电路测试仪软件截图:


    1.器件测试图例:

    器件测试图例


    2.集成电路测试截图:

    集成电路测试截图


    3.可以放大观看单个管脚PIN

    放大观看单个管脚

    4. V-T测试:

    V-T测试


    5. 矩阵测试:

    矩阵测试


  • 英国abi_SWA512集成电路测试仪规格参数:


    二维V-I动态阻抗端口测试通道:512路

    二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:512路

    三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:512路

    设备可以64通道为步进可扩充到2048组测试通道

    实时探笔对比测试通道:4路

    同步脉冲信号:4路

    测试电压范围:2 V ~ 50 Vp-p;

    显示图形模式:V-I、V-T、V-I-F、V-T-F;

    信号电流范围: 1 μA to 150 mA

    测试阻抗范围 : 100Ω ~ 1MΩ;

    三维立体V-I-F测量方式:扫频;

    同步脉冲输出模式:单脉冲、双脉冲、三脉冲、四脉冲;

    同步信号振幅:可调式由 +10 V ~- 10V;



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