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AT256 A4集成电路测试仪

具备二维集成电路专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板专用V-I动态阻抗端口测试通道:64路(可扩充至2048路);三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:64路(可扩充至2048路)

  • 英国abi_ AT256A4集成电路测试仪视频介绍



     

            英国abi_ AT256A4集成电路测试仪对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号,产生一个阻抗特征图,以备对比和存储。被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对,阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。


  • 英国abi_AT256 A4集成电路测试仪详细资料:

    二维集成电路专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路

    二维电路板专用V-I动态阻抗端口测试通道:64路(可扩充至2048路)

    三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:64路(可扩充至2048路)


    功能用途:

    1)集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;

    2)快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;

    3)对不良器件进行三维动态阻抗失效分析;

    4)非加电条件下对集成电路、电路板进行全面的端口动态阻抗测试分析;

    5)快速准确定位失效集成电路故障管脚,高效查找故障电路板的失效I/O管脚;

    6)测试安全可靠,全面解决器件工艺、电路板工艺问题,快速解决集成电路及电路板故障点定位问题;

    7)进行集成电路和电路板阻抗一致性检测;

    8)配合专用测控平台软件,实现集成电路、电路板定制化和自定义编程测试。


    英国abi_AT256 A4集成电路测试仪测试原理(V-I曲线测试):

    对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号,产生一个阻抗特征图,以备对比和存储。

    被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对,阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。

    测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。


    集成电路测试操作如此简单:

    1.从数据库选择要测试的集成电路型号.

    2.将集成电路插入测试座.

    3.执行测试

    4.得到PASS或FAIL的测试结果.


    不需要电子专业知识.

    适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板.

    灵活、好安装、宜操作.

    测试结果直接: PASS或FAIL.

    软件可设定各种测试条件.

    可提供完整的集成电路自定义测试分析报告.


    英国ABI-AT256 A4全品种集成电路测试仪适合不同封装形式的元件:

    -双列插脚(DIL)

    -小型封装集成集成电路(SOIC)

    -小型封装(SSOP, TSOP)

    -塑料无引线芯片载体封装(PLCC)

    -四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)

    -球门阵列封装(BGA)

    注意: AT256 A4不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个电路板的测试。


  • 英国abi_AT256 A4 全品种集成电路筛选测试仪软件截图:

    1. 集成电路筛选测试图

    集成电路筛选测试图


    2. 集成电路测试报告

    集成电路测试报告


    3. 三维立体V-I-F测试图1

    三维立体V-I-F测试图1

    4. 三维立体V-I-F测试图2

    三维立体V-I-F测试图2


    5. V-T测试图

    V-T测试图


    6. 矩阵式V-I曲线测试图

    矩阵式V-I曲线测试图



  • 英国abi_AT256 A4集成电路测试仪技术规格:


    1.测试通道:256集成电路快速筛选测试通道;

    2.测量通道:64路V-I-F/V-I测试通道(最大可扩充至2048通道);

    3. 探笔通道:4通道实时对比测试;

    4. 信号通道:4通道同步脉冲信号输出;

    5.扫描波形:正弦波、三角波、锯齿波

    6.集成电路筛选扫描频率:100Hz/200Hz/500Hz/1KHz/2KHz/5KHz 6种频率供选择

    7. 测试信号频率范围:二维测试频率范围:1 Hz ~ 10kHz(以1Hz为步进连续可调);

    8. 三维测试频率范围:10Hz ~ 10kHz(以1Hz为步进连续可调);

    9.扫描电压:20Vp-p/10Vp-p/4Vp-p/2Vp-p,调整分辨率0.1V;可以设定为非对称扫描电压

    10. 测试信号电压范围:2 V ~ 50 Vp-p;

    11.测试源电阻:100Ω ~ 1MΩ;

    12.扫描类型2种:

        矩阵扫描:以每个管脚为公共端,其他管脚对公共端的扫描。

        常规扫描:以某个管脚为公共端,其他管脚对这个管脚的扫描。

    13.测试方法2种:数据存储对比、元器件间对比

    14.扫描循环4种:单次、循环;

    15. 显示图形模式: V-I, V-T, V-I-F,V-T-F;

    16. 二维V-T测量方式:检查与时间特性器件的测量方式;

    17. 三维立体V-I-F测量方式:检查与频率特性有关的器件或电路板的测量方式;

    18. 同步脉冲输出模式:单脉冲、双脉冲、三脉冲、四脉冲;

    19. 同步信号振幅: -10 V ~ +10V可调,最小调整分辨率0.01V;

    20. 设备升级:可以以64通道为步进最大扩充到2048组测试通道。

    21.电气规格:电源电压:85-264VAC,电源频率47-63Hz

    22.操作环境:操作温度:10℃~30℃,操作湿度:20-80%RH


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