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abi-3200电路板故障检测仪

英国abi-3400的简化版。可在静态(非加电)条件下分析器件及整板测试。采用三维立体V-I-F动态阻抗测试方法, 测量电气信号曲线, 侦测错误/瑕疵问题, 包含内部损坏器件与不一致器件,增加设备检测能力, 同时减少测试时间。

  • 英国abi-3200电路板故障检测仪产品概述:

       英国abi-3200电路板维修测试仪是abi-3400的简化版。可在静态(非加电)条件下分析器件及整板测试。采用三维立体V-I-F动态阻抗测试方法, 测量电气信号曲线, 侦测错误/瑕疵问题, 包含内部损坏器件与不一致器件,增加设备检测能力, 同时减少测试时间!


    1.软件配置:

    1)具有测试流程记忆功能(软件具有强大的测试流程编辑和记录功能)

    2)*记录多种测试信息。软件可将标准电路板上测量到的V-I-F、V-I和V-T曲线图都存储记录到测试程序中,方便随时与其他电路板进行对比,大大简化了测试中需要重复对比的工作。

    3)软件在测试流程中允许用户根据需要加入对测试步骤的文字说明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文档、网页链接、视频等,大大提升了测试效率。

    4)*中文、英文测试操作软件,提供免费软件的升级服务;

    2.硬件配置:

    1)具有32通道数字V-I动态阻抗测试(可扩充到2048通道)。

    2)*具有32路测试V-I-F和V-I测试通道,2路探棒测试,2组同步脉冲。具备变频三维立体V-I-F测量方式,三维立体显示器件的端口特性曲线。可以查找与器件频率有关的故障。三维画面与二维画面可以相互切换,可在二维图面上显示曲线各点的电气参数值(V/I):电压、电流具体数值。扩充到2048路V-I-F测试通道。

    3)*系统可对多种器件进行端口测试: V-I、V-T、V-I-F、V-T-F测试。二维V-I测试低达1Hz频率,测试频率高达10kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件。可设定同步脉冲信号的幅值与宽度, 进行可控硅元器件或FET的功能测试。


    英国abi-3200电路板故障检测仪特点:

    静态诊断电路板, 不必外加电源即可进行测试。

    检测电路板上受损器件。

    可检测出具有泄漏型故障的器件。

    可检测出不相同的器件。

    将损坏风险降至很低。

    通道可扩充至2048路

    何谓V/I曲线测试?

       对于模拟及数字电路板, V/I曲线测试是成熟、可靠的解决方案。

       透过一个限流电阻器, 施加AC电压到一个测试点时, 测量因此产生的电流, 并将结果绘制成一个电压/电流图形, 即显示该测试点的特性曲线。


    分析V/I曲线,通常是与一个参考点作比较,而检测如下问题:

    漏电流器件。

    内部受损器件。

    错误数值的器件。

    不一致的器件。

    短路与开路。


    变频扫描方式---增加设备查找问题的范围!

       abi-3200通过改变V/I信号的AC电压的频率, 而增加设备查找问题的范围, 其产生的曲线, 绘制在一个3D窗口内, 能让使用者观察到整个频率范围上的V/I曲线变化, 进而找到标准V/I分析方法看不见的问题。


    矩阵式扫描V/I----- 增加设备查找问题的范围!

       abi-3200模块也可使用矩阵式扫描获得V/I曲线, 而增加设备查找问题的范围。在这个模式时, abi-3200模块是在参考其它有效管脚(不同于标准V/I测试中只有一个参考管脚)的情形下, 获得一个器件或电路板每个管脚的V/I曲线。如此,便能产生丰富的数据组(一个20脚器件400条曲线), 足以检测出不易查找的故障。


  • 英国abi abi-3200电路板故障检测仪介绍视频



            英国abi-3200电路板故障检测仪可在静态(非加电)条件下分析器件及整板测试。采用三维立体V-I-F动态阻抗测试方法, 测量电气信号曲线, 侦测错误/瑕疵问题, 包含内部损坏器件与不一致器件,增加设备检测能力, 同时减少测试时间。


  • 英国abi-3200电路板故障检测仪软件截图:

    1. V-I-F测试:

    V-I-F测试

     

    2. V-I-F多通道测试:

    V-I-F多通道测试


    3. V-T测试:

    VT测试

     

    4. 矩阵测试:

    矩阵测试



  • 英国abi-3200电路板故障检测仪技术规格和参数:


    1. 测量通道:32路V-I-F/V-I测试通道(可扩充至2048通道);

    2. 探笔通道:2通道实时对比测试;

    3. 信号通道:2通道同步脉冲信号输出;

    4. 测试信号电压范围:2 V ~ 50 Vp-p;

    5. 测试信号频率范围:二维测试频率范围:1 Hz ~ 10kHz(以1Hz为步进连续可调);

    6. 三维测试频率范围:10Hz ~ 10kHz(以1Hz为步进连续可调);

    7. 信号电流范围:1 μA ~ 250 mA;

    8. 测试阻抗范围:100Ω ~ 1MΩ;

    9. 测试信号波形:正弦波;

    10. 显示图形模式: V-I, V-T, V-I-F,V-T-F;

    11. 二维V-I测量方式:以器件或电路板某一管脚为参考点,其他管脚对参考的的阻抗;

    12. 二维V-T测量方式:检查与时间特性器件的测量方式;

    13. 二维矩阵测试:管脚间的V-I曲线测试;

    14. 三维立体V-I-F测量方式:检查与频率特性有关的器件或电路板的测量方式;

    15. 同步脉冲输出模式:单脉冲、双脉冲、三脉冲、四脉冲;

    16. 同步信号振幅: -10 V ~ +10V可调,最小调整分辨率0.01V;

    17. 设备升级:可以以64通道为步进可扩充到2048组测试通道。


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