| 分立器件测试仪:
LCR 电桥
半导体参数测试仪
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产品图片 |
名称[型号] |
简介 |
单价 |
| 1 |
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LCR测试仪
3511-50 |
高速测量：5ms(1kHz)或13ms(120Hz) |
面议 |
| 2 |
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LCR测试仪
3522-50 |
宽频量程(DC或1mHz~100kHz) |
面议 |
| 3 |
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LCR测试仪
3532-50 |
测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整 |
面议 |
| 4 |
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LCR测试仪
3535 |
100kHz～120MHz的宽频带 |
面议 |
| 5 |
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C测试仪
3501 |
测量量程:300 pF ～ 10,000 μF |
面议 |
| 6 |
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C测试仪
3504 |
输出电阻:5Ω（CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范... |
面议 |
| 7 |
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C测试仪
3504-10 |
输出电阻:5Ω（CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范... |
面议 |
| 8 |
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LCR测试仪
4263B |
测试频率为100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz |
56000 |
| 9 |
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自动电阻电容电感测试仪
PM6304 |
基本精度 0.05%(只限PM6304C) |
42000 |
| 10 |
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自动电阻电容电感测试仪
PM6306 |
频率范围 50Hz～1MHz |
62000 |
| 11 |
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LCR测试仪
3511 |
基本精度:|Z|：±0.08%rdg.，q：±0.05 |
16900 |
| 12 |
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LCR高精度测试仪
3522 |
基本精度:|Z|：± 0.08% rdg.，q ：± 0.05。 |
39500 |
| 13 |
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LCR测试仪
3532 |
基本精度:|Z|：± 0.08% rdg.，q ：± 0.05 |
43752 |
| 14 |
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电容测试仪
3501 |
从300pF到10,000mF，16段范围 |
面议 |
| 15 |
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高精密 LCR 测试仪
LCR-816 |
测试频率12Hz~100kHz,503点 |
7500 |
| 16 |
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高精密 LCR 测试仪
LCR-817 |
测试频率12Hz~100kHz,503点 |
12500 |
| 17 |
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高精密 LCR 测试仪
LCR-819 |
测试频率12Hz~100kHz,503点 |
13300 |
| 18 |
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高精密 LCR 测试仪
LCR-821 |
测试频率12Hz~100kHz,ContinuouslyVariable... |
19900 |
| 19 |
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高精密 LCR 测试仪
LCR-826 |
·测试频率12Hz~100kHz,503点 |
9400 |
| 20 |
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高精密 LCR 测试仪
LCR-827 |
测试频率12Hz~100kHz,503点 |
14900 |
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c
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