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分立器件测试仪[日本日置]
·LCR 电桥  
　 产品图片 名称[型号] 简介 单价
1　 LCR测试仪3511-50 LCR测试仪
3511-50 		高速测量：5ms(1kHz)或13ms(120Hz) 面议
2　 LCR测试仪3522-50 LCR测试仪
3522-50 		宽频量程(DC或1mHz~100kHz) 面议
3　 LCR测试仪3532-50 LCR测试仪
3532-50 		测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整 面议
4　 LCR测试仪3535 LCR测试仪
3535 		100kHz～120MHz的宽频带 面议
5　 C测试仪3501 C测试仪
3501 		测量量程:300 pF ～ 10,000 μF 面议
6　 C测试仪3504 C测试仪
3504 		输出电阻:5Ω（CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范... 面议
7　 C测试仪3504-10 C测试仪
3504-10 		输出电阻:5Ω（CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范... 面议
8　 LCR测试仪3511 LCR测试仪
3511 		基本精度:|Z|：±0.08%rdg.，q：±0.05 16900
9　 LCR高精度测试仪3522 LCR高精度测试仪
3522 		基本精度:|Z|：± 0.08% rdg.，q ：± 0.05。 39500
10　 LCR测试仪3532 LCR测试仪
3532 		基本精度:|Z|：± 0.08% rdg.，q ：± 0.05 43752
11　 电容测试仪3501 电容测试仪
3501 		从300pF到10,000mF，16段范围 面议
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 分立器件测试仪分类
· LCR 电桥 [49]
· 半导体参数测试仪 [20]

 

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