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分立器件测试仪(半导体参数测试仪)[三航]
  产品图片 名称[型号] 简介 单价
1  半导体分立器件测试仪ICT2900 半导体分立器件测试仪
ICT2900
30 pA 漏电流测量分辨率 260000
2  可控硅综合参数测试仪HB2931B 可控硅综合参数测试仪
HB2931B
通态峰值电压VTM测量范围:0~5V 误差≤+5%;通态峰值电流ITM测... 26500
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