半导体分立器件测试仪
2005-2-24
新建网页 2 | | | IST8800 | 半导体分立器件综合测试仪 全部智能化,可测场效应管,二极管、三极管、齐纳管、可控硅、三端电源各种直流参数,带接口.
附件:1200V高压测试头. | 美国 | 99,256 | | | 31,790 | | BJ2923 | 智能化晶体管参数综合测试仪 自动测量三极管12个参数及二极管直流参数,数字式,可自动分选,带打印接口. | | 32,000 | | BJ2948 | 闸流晶体管参数测试仪 可测试VGT,IGT,IH,VT(av),IT(av)VTM,ITM及断态反向等17个参数.反向,断态电压可达2000V,通态最大电流到200A,智能型,
CRT显示,带打印接口,操作简便,智能化程度高. | | 28,000 | | BJ2942 | 闸流管参数测试仪
测量可控硅触发电压Vgt和触发电流Igt. | | 5,600 | | BJ2922A | 场效应管测试仪 可测gm,Vp,Idss,数字显示. | | 7,800 | | BJ2912B | 稳压二极管测试仪
满足INT740-986系列,ZCW,ZDW等各类稳压二极管,可测: VF、VZ、RZ、IR. | | 9,500 | | JS-2D | 双级型晶体管反向截止电流测试仪 可测NPN、PNP.小中大功率三极管Iceo,
Icbo,Ices,Icer反向截止电流,偏置电压500V最高分辨率0.1A. | | 5,800 | | JS-2G | 二极管反向漏电流仪 测试二极管及任何二端元件,分脉冲和直流二种方式, 20V-1500V,0.1nA-100μA. | | 8,600 | | BJ2950A | 三极管工作电压测试仪 测试二极管VBC VCE及二极管VF | | 3,500 | | BJ2951A | 三极管HFE测试仪 测试三极管放大倍数HFE. | | 3,500 | | BJ2952A | 晶体管击穿电压测试仪 测量Bvceo,Bvbo,Bvedo,及Bvcer | | 3,500 | | BJ2984 | 三极管瞬态热阻测试仪 仪器配套WD-9电源 | | 28,000 | | BJ2984A | 二极管瞬态热阻测试仪 仪器配套WD-9电源 | | 28,000 | | JE-2b | 二极管综合参数测试仪 可测试各种类型二极管、稳压管及动态电阻VB:0-1.5 KV、IR:0-3mA、VF:0-1.5V、IF:0-3A、RZ:0-100Ω | | 6,500 | | 2936 | 二极管、桥式整流器正向参数测试仪 可测量二极管、桥式整流器正向参数,VF:0-3V、IFO-20A,根据用户要求IF可扩展到50A、100A | | 4,500 | | 2940 | 二极管、桥式整流器、可控硅反向参数测试仪 可测量二极管、桥式整流器可控硅反向参数,VB:0-2KV、IB:0-3mA,根据用户要求VB可到3KV、5KV. | | 4,500 | | 2960 | 二极管恢复时间测试仪 全部参数数显,正向电流2-100A反向脉冲1-15V负载电阻10、75、600Ω三挡. | | 4,800 | | 2960E | 高级二极管恢复时间测试仪 ICE标准测试方法、正、反向电流可预置,模拟显示, 恢复时间数显,最小测到1.5nS,有前置脉冲插口可接示波器. | | 6,200 | | 2960F | 二极管反向恢复时间测试仪 测试快速整流二极管恢复时间. | | 5,500 | | 2960G | 高频硅堆恢复时间测试仪 用于电视硅堆的反向恢复时间测试,正向电流1-3mA, 恢复电流2-5mA,负载电阻100欧. | | 5,400 | | SCRC | 可控硅综合参数测试仪 可测量可控硅通态、大电流参数及触发电压、触发电流、维护电流.IF:0-100A、VF:0-3V、IG:0-300mA VG:0-3V、IH:0-300mA,根据用户要求IF可扩展到200A、300A、500A | | 14,500 | | 2931A | 晶闸管门极参数测试仪
可测量晶闸管通态、断态触发电压、触发电流,维持电流 维持电压等参数,配有示波器观察曲线.VTM:0-10V、ITM:0-15A、VDRM:
0-4KV、VG:0-10V,IG:0-500mA,ICH:0-500mA | | 13,800 | | 2932 | 晶闸管门极参数测试仪 可测量晶闸管可控硅及双向可控硅的触发电压、触发电流 和维持电流可对双向可控硅进行四个象限测试VG:0-10V,IG:0-500mAIH:0-500mA. | | 4,500 | | 2934S | 双向可控硅参数测试仪 可测量双向可控硅的正向断态电压和电流,反向阻断电压和电流,配有示波器.VDRM;0-3KV,IDRM:0-50mA | | 8,500 | | 031 | 可控硅触发特性测试仪 用于测试单双向可控硅的触发电压、触发电流、维持电流全部数字显示. | | 5,000 | | 051 | 可控硅DV/Dt测试仪 测可控硅的断态电压临界上升率,数显. | | 5,500 | | ST5150 | 半导体参数测试系统 可测试三端双向可控硅、可控硅整流器、晶体管、MOS/J场效应管、整流管、二极管、光电开关管.选择适配器可测各种组合器件:光电耦合器、三端稳压器、光电逻辑器件、最大电流50A、最高电压1KV.300S脉冲测试,标准并行口,RS-232串口,机械手接口,PC器件生成软件 | 美国 | 面议 | | ST5300HS | 半导体参数测试系统 高速测量,测试器件门类广.自校准、自检验、A/D变换, 实时运算,测试结果比较和数值计算.可选扫描器、多路器和电压、电流扩展. 附加5300PC软件.可创建测试程序和记录. | 美国 | 面议 | |
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